白友兆
. 1984, (2):
121-132.
摘要 (
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可视化
 
用双晶高分辨力荧光X射线谱仪测定了若干种化合物的Al K_α谱线,在分析这些化合物中Al的配位状态的同时,对分析方法作了较系统的研究,研究结果表明:(1)利用Al K_α分析Al的配位状态是一种简单而有效的方法,但仅根据位移往往不能得到正确的结果,必须同时注意谱形的变化。(2)在涉及混合配位的定量分析时,谱线分离法是很有效的方法,但对谱形变化所造成的误差必须进行修正。(3)与历来的说法不同,CA_6中的Al不是四、六混合配位,而是以五配位为主的五、六混合配位。(4)Al K_α谱线移主要取决于Al离子的有效电荷;配位数相同的情况下,第二邻接离子对位移的影响远的位大于Al-O键长的影响。